Infra-rot und Lifetime Messung

Lebenszeit

Anhand dieser Messmethoden ist es möglich auf SiC-Nester (Einschlüsse), Risse und sonstige Beschädigungen innerhalb der Werkstücke zu prüfen um den anschließenden Waferprozess nicht negativ zu beeinflussen. Die Lifetime Messung gibt Qualitätswerte der Materialbeschaffenheit.

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